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Classification of laserscanner measurements at intersection scenarios with automatic parameter optimization

Erstveröffentlichung
2005
Autoren
Wender, S
Schoenherr, M
Kaempchen, N
Dietmayer, Klaus
Beitrag zu einer Konferenz


Erschienen in
2005 IEEE Intelligent Vehicles Symposium Proceedings. - New York, NY : IEEE, 2005. - S. 94-99. - ISBN 0-7803-8961-1
Fakultäten
Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Informatik und Psychologie
Institutionen
Institut für Mess-, Regel- und Mikrotechnik
Konferenz
IEEE Intelligent Vechicles Symposium, 2005-06-06 - 2005-06-08, Las Vegas, NV
Schlagwörter
[DDC Sachgruppe]: DDC 620 / Engineering & allied operations

Metadata
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