Classification of laserscanner measurements at intersection scenarios with automatic parameter optimization

Erstveröffentlichung
2005Authors
Wender, S
Schoenherr, M
Kaempchen, N
Dietmayer, Klaus
Beitrag zu einer Konferenz
Published in
2005 IEEE Intelligent Vehicles Symposium Proceedings. - New York, NY : IEEE, 2005. - S. 94-99. - ISBN 0-7803-8961-1
Faculties
Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Informatik und PsychologieInstitutions
Institut für Mess-, Regel- und MikrotechnikConference
IEEE Intelligent Vechicles Symposium, 2005-06-06 - 2005-06-08, Las Vegas, NV