Determination of the dislocation densities in GaN on c-oriented sapphire

1996

Pelzmann, A

Mayer, M

Kirchner, C

Sowada, D

Rotter, T

et al.

Wissenschaftlicher Artikel

MRS Internet Journal of Nitride Semiconductor Research ; 1 (1996), 1-46. - S. U313-U320. - Art.-Nr. 40. - ISSN 1092-5783

Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Informatik und Psychologie

Institut für Optoelektronik

[DDC Sachgruppe]: DDC 620 / Engineering & allied operations