Acceptor-related luminescence at 3.314 eV in zinc oxide confined to crystallographic line defects

Erstveröffentlichung
2007Autoren
Schirra, M.
Schneider, R.
Reiser, A.
Prinz, G. M.
Feneberg, M.
Beitrag zu einer Konferenz
Erschienen in
Physica B: Condensed Matter ; 401 - 402 (2007). - S. 362-365. - ISSN 0921-4526
Link zur Veröffentlichung
https://dx.doi.org/10.1016/j.physb.2007.08.188Fakultäten
Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Informatik und PsychologieInstitutionen
Institut für HalbleiterphysikZE Elektronenmikroskopie
Institut für Mikro- und Nanomaterialien
Konferenz
24th International Conference on Defects in Semiconductors, 2007-07-22 - 2007-07-27, Albuquerque, NM
Schlagwörter
[Freie Schlagwörter]: ZnO | acceptors | stacking faults | cathodoluminescence | MOLECULAR-BEAM EPITAXY | PHOTOLUMINESCENCE | FILMS[DDC Sachgruppe]: DDC 530 / Physics