Author | Höck, Georg Josef | dc.contributor.author |
Date of accession | 2016-03-14T13:38:37Z | dc.date.accessioned |
Available in OPARU since | 2016-03-14T13:38:37Z | dc.date.available |
Year of creation | 2004 | dc.date.created |
Abstract | Die untersuchten p-Kanal Heterostruktur Feldeffekttransistoren bestanden aus einem SiGe-Kanal bzw. einem reinem Ge-Kanal auf einem relaxierten SiGe-Puffer. Es wurden hierbei zwei Konzepte verfolgt: zum einen Ge/SiGe-MODFETs mit Schottky-Gates und zum anderen SiGe-Kanal MOSFETs.
Die verwendeten Epitaxieschichten wurden mittels Molekularstrahlepitaxie (MBE) und teilweise auch mittels Low Energy-PECVD hergestellt.
Magnetfeldabhängige Hall-Messungen an modulationsdotierten SiGe-Kanal Heterostrukturen ergaben Löcherbeweglichkeiten von bis zu 785 cm^2/Vs (Si0.36Ge0.64-Kanal), 1174 cm^2/Vs (Si0.2Ge0.8-Kanal) und 1876 cm^2/Vs (Ge-Kanal).
Die untersuchten MODFETs bestanden aus einem verspannten Ge-Kanal auf einem relaxierten Si0.4Ge0.6 Puffer. Bei einer Gatelänge von 0.1 µm zeigten die Ge-Kanal MODFETs maximale Steilheiten von 190 mS/mm und Grenzfrequenzen von f_T=56 GHz und f_max=135 GHz. Die minimale Rauschzahl lag bei 0.5 dB (bei 2.5 GHz).
Bei den p-SiGe-Kanal MOSFETs wurden Strukturen mit Ge-Konzentrationen zwischen 60 % und 83 % im Kanal untersucht. Die minimale Gatelänge lag bei 1 µm. Das Gateoxid wurde mittels Remote Plasma PECVD und konventioneller PECVD hergestellt. Die Transistoren zeigten Drainströme bis zu 440 mA/mm und Steilheiten von 120 mS/mm bei 1 µm Gatelänge und 5 nm Oxiddicke.
Die effektive Löcherbeweglichkeit im SiGe-Kanal der MOSFETs wurde mittels Leitfähigkeitsmessungen und C-V-Messungen in Abhängigkeit vom vertikalen elektrischen Feld bestimmt. Dabei ergaben sich Maximalwerte von 420 cm^2/Vs bei einem Si0.35Ge0.65 Kanal und 760 cm^2/Vs bei einem Si0.17Ge0.83 Kanal. Diese Beweglichkeitswerte sind deutlich höher als bei einem konventionellen Si p-MOSFET (200 cm^2/Vs) und erreichen sogar die Werte eines konventionellen Si n-MOSFETs.
Bei der Untersuchung der Temperaturstabilität der verspannten SiGe-Kanäle zeigte sich, dass bei Prozesstemperaturen oberhalb von 750° C, abhängig vom Ge-Gehalt, bereits eine merkliche Ausdiffusion von Ge aus dem SiGe-Kanal stattfindet. | dc.description.abstract |
Language | de | dc.language.iso |
Publisher | Universität Ulm | dc.publisher |
License | Standard (Fassung vom 03.05.2003) | dc.rights |
Link to license text | https://oparu.uni-ulm.de/xmlui/license_v1 | dc.rights.uri |
Keyword | Field-effect transistor | dc.subject |
Keyword | Heterostructure | dc.subject |
Keyword | Hole mobility | dc.subject |
Keyword | Löcherbeweglichkeit | dc.subject |
Keyword | SiGe | dc.subject |
LCSH | Metal oxide semiconductor field-effect transistors | dc.subject.lcsh |
LCSH | Modulation-doped field-effect transistors | dc.subject.lcsh |
LCSH | Silicon | dc.subject.lcsh |
Title | Silizium Germanium p-Kanal Heterostruktur Feldeffekttransistoren | dc.title |
Resource type | Dissertation | dc.type |
DOI | http://dx.doi.org/10.18725/OPARU-317 | dc.identifier.doi |
URN | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:289-vts-49023 | dc.identifier.urn |
GND | Feldeffekttransistor | dc.subject.gnd |
GND | Germanium | dc.subject.gnd |
GND | HEMT | dc.subject.gnd |
GND | Heterostruktur | dc.subject.gnd |
GND | MOS-FET | dc.subject.gnd |
GND | Silicium | dc.subject.gnd |
Faculty | Fakultät für Ingenieurwissenschaften | uulm.affiliationGeneral |
Date of activation | 2004-12-10T10:35:00Z | uulm.freischaltungVTS |
Peer review | nein | uulm.peerReview |
Shelfmark print version | Z: J-H 10.588 ; W: W-H 7.948 | uulm.shelfmark |
DCMI Type | Text | uulm.typeDCMI |
VTS ID | 4902 | uulm.vtsID |
Category | Publikationen | uulm.category |
Bibliography | uulm | uulm.bibliographie |