Combined in situ atomic force microscopy and infrared attenuated total reflection spectroelectrochemistry

Erstveröffentlichung
2013Authors
Neubauer, Daniel
Scharpf, Jochen
Pasquarelli, Alberto
Mizaikoff, Boris
Kranz, Christine
Wissenschaftlicher Artikel
Published in
Analyst ; 138 (2013), 22. - S. 6746-6752. - ISSN 0003-2654. - eISSN 1364-5528
Link to publication
https://dx.doi.org/10.1039/c3an01169kFaculties
Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Informatik und PsychologieFakultät für Naturwissenschaften
Institutions
Institut für Analytische und Bioanalytische ChemieInstitut für Elektronische Bauelemente und Schaltungen
Subject headings
[Free subject headings]: SCANNING ELECTROCHEMICAL MICROSCOPY | HYDROXYPROPYL-BETA-CYCLODEXTRIN | SODIUM DODECYL-SULFATE | DIAMOND THIN-FILM | OPTICALLY TRANSPARENT | AQUEOUS-MEDIUM | ATR-FTIR | ELECTRODE | POLY(3,4-ETHYLENEDIOXYTHIOPHENE) | SPECTROSCOPY[DDC subject group]: DDC 540 / Chemistry & allied sciences