Online Reliability Testing for PUF Key Derivation

Erstveröffentlichung
2016Authors
Hiller, Matthias
Oenalan, Aysun Gurur
Sigl, Georg
Bossert, Martin
Beitrag zu einer Konferenz
Published in
Proceedings of the Sixth International Workshop on Trustworthy Embedded Devices (TrustED 2016). - New York, NY : Association for Computing Machinery, 2016. - S. 15-22. - ISBN 978-1-4503-4567-5
Link to publication
https://dx.doi.org/10.1145/2995289.2995293Faculties
Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Informatik und PsychologieInstitutions
Institut für NachrichtentechnikConference
6th International Workshop on Trustworthy Embedded Devices (TrustED), 2016-10-28, Vienna