Composition analysis of coaxially grown InGaN multi quantum wells using scanning transmission electron microscopy
Wissenschaftlicher Artikel
Fakultäten
Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Informatik und PsychologieFakultät für Naturwissenschaften
Institutionen
Institut für OptoelektronikInstitut für Quantenmaterie
Erschienen in
Journal of Applied Physics ; 119 (2016), 17. - Art.-Nr. 175701. - ISSN 0021-8979. - eISSN 1089-7550
Link zur Veröffentlichung
https://dx.doi.org/10.1063/1.4948385Förderinformationen
Karlsruher Institute of Technology (KIT)
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) [RO2057/8-1]
Baden-Württemberg Stiftung, Germany
DFG [MU3660/1-1]
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DFG [MU3660/1-1]