VCSEL Technology for Imaging and Sensor Systems Applications
Beitrag zu einer Konferenz
Autoren
Ebeling, Karl Joachim
Michalzik, Rainer
Fakultäten
Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Informatik und PsychologieInstitutionen
Institut für OptoelektronikErschienen in
2017 22nd Microoptics Conference (MOC). - New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017. - S. 20-21. - ISBN 978-4-8634-8609-6
Konferenz
22nd Microoptics Conference (MOC), 2017-11-19 - 2017-11-22, Univ Tokyo, Inst Ind Sci, Japan