Silanization of Sapphire Surfaces for Optical Sensing Applications

Erstveröffentlichung
2017Autoren
Sandner, Tanja
Steinbach, Annina M.
Knittel, Peter
Diemant, Thomas
Behm, Rolf Jürgen
Wissenschaftlicher Artikel
Erschienen in
ACS Sensors ; 2 (2017), 4. - S. 522-530. - ISSN 2379-3694
Link zur Veröffentlichung
https://dx.doi.org/10.1021/acssensors.6b00786Fakultäten
Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Informatik und PsychologieFakultät für Naturwissenschaften
Institutionen
Institut für Analytische und Bioanalytische ChemieInstitut für Elektronische Bauelemente und Schaltungen
Institut für Oberflächenchemie und Katalyse
Schlagwörter
[Freie Schlagwörter]: sapphire | self-assembled layers | binding properties | infrared reflection absorption spectroscopy | X-ray photoelectron spectroscopy | atomic force microscopy | self-assembled monolayers | organized molecular assemblies | reflection spectroscopy | infrared-spectroscopy | silicon-oxide | thin-layers | gold | films | adsorption | sensors[DDC Sachgruppe]: DDC 540 / Chemistry & allied sciences